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深度解析标准主要规定内容

时间:2023-06-22 理论教育 版权反馈
【摘要】:曲面透照的规定对基本要求规定做出了修正式改变。对部分γ射线源、部分厚度,对常规像质计值做出了图像质量可降低要求的规定。标准也具体规定了测定图像质量时像质计的位置、放置等要求。

深度解析标准主要规定内容

标准关于一般要求和推荐技术规定的主要要求,可以归纳为:技术级别、探测器系统选择、透照技术、其他技术(显示、存储、校正等)、图像质量要求、人员资格等方面。

1.技术级别

关于技术级别,标准的主要规定内容与胶片射线照相检测技术标准(ISO17636-1)规定相同,也可概括为三方面:检验技术基本级别、存在比B级技术更好的技术和技术级别认可规定。

关于检验技术基本级别,标准将技术划分为两个级别:A级(基本技术)和B级(改进技术)。

并指出,规定的A级、B级与胶片射线照相技术规定的A级、B级具有同等的缺陷可识别性。

标准也说明,存在比B级技术更好的技术。对技术级别也做出了认可规定。即,如果由于技术原因,某些方面不能达到B级技术的规定(例如,源类型、源到工件表面距离),合同可以规定选用A级技术的规定,损失的灵敏度应采取措施补偿。对CR技术通过增加最小灰度值和信噪比补偿,对DR技术通过增加信噪比补偿。

2.探测器系统选择

对于探测器系统选择,标准的规定分散在一般要求的“IQI类型与位置”和推荐的数字射线检测技术中关于“探测器系统和金属屏”的规定中。

在“IQI类型与位置”规定了探测器系统基本空间分辨率的测定方法(附录C)和应达到值(附录B)的规定。在“探测器系统和金属屏”中,按技术级别、材料类别规定了获得的检测图像应达到的规格化信噪比的最低要求,间接规定了探测器系统规格化信噪比要求。

3.透照技术

在推荐的数字射线检测技术中,关于透照技术的规定包括:透照布置、管电压和射线源选取、射线束方向、散射线减少、射线源与物体距离、几何放大技术、一次透照最大区等,主要规定要求与胶片射线照相检测技术相同,某些方面做出了新的规定。

(1)关于透照布置 标准给出了共19个透照方式图,与胶片射线照相检测技术标准(ISO 17636-1)规定相同。还包括了与一般标准“小管问题”内容相同的小管透照技术要求(两种透照方式;采用椭圆成像透照方式的条件、椭圆成像透照方式的透照次数、椭圆成像的鹰像开口宽度;垂直透照方式的采用与透照次数等)。

(2)关于射线能量 规定内容分为1000kV以下的X射线和其他射线源,主要规定是射线能量与适用厚度关系的规定。对1000kV以下的X射线,具体推荐了最高透照电压与透照材料、厚度的关系,这就是胶片射线照相检测技术的规定。对1MeV以上的X射线和γ射线源,推荐了射线源适宜厚度,规定与胶片射线照相检测技术相同。

(3)关于源到工件表面最小距离 标准做出了较多的规定,整理后可归纳为三方面:基本要求规定、曲面透照规定、补偿探测器固有不清晰度影响的规定。基本要求规定在形式上与胶片射线照相检测技术相同,但附加了探测器的基本空间分辨率应远小于几何不清晰度条件要求。曲面透照的规定对基本要求规定做出了修正式改变。补偿探测器固有不清晰度影响的规定,改变了基本要求规定计算式。进行简单分析就可看到,这部分规定存在可操作性问题。此外,与胶片射线照相检测技术相同,对源在内偏心透照允许源到工件表面距离减少不超过规定值的20%,对源在中心的周向透照允许源到工件表面距离减少不超过规定值的50%。

(4)关于几何放大倍数规定 这是新的规定,规定内容可概括为两个方面:放大作用说明和放大倍数确定。对放大作用标准指出,CR和DR数字射线检测技术系统,与具有很高空间分辨率的小颗粒胶片比较,一个困难是其探测器或IP板扫描器的大像素尺寸(大于50μm),这可导致IQI灵敏度和基本空间分辨率都不能达到标准规定的要求。克服此问题的方法:一是采用先进的、性质一致的DDA探测器,提高成像信噪比;二是采用放大布置。如果采用这两种措施仍然不能达到要求的图像质量,则该系统不能应用于检验项目工作。对放大倍数的确定,标准规定使用双丝像质计确定选用的放大倍数,对2 SRbϕ(射线源尺寸或焦点尺寸)情况,图像不清晰度可从放大倍数M(在ISO 17636-2:2013中用ⅴ)、几何不清晰度Ug、图像不清晰度Uim、射线源尺寸ϕ按下式估计

一般来说由于放大倍数对工件源侧和探测器侧不同,因此应按工件透照中心计算,并且源侧和探测器侧的放大倍数差应不超过±25%。

(5)关于一次透照区 规定包括三方面内容:源在中心一次透照、环形接头透照次数、按技术级别和透照厚度比控制透照次数。具体规定与胶片射线照相检测技术相同。特殊的是按透照厚度比控制时,附加了厚度变化引起的规格化信噪比值限制。

4.其他技术要求

主要包括图像扫描与读出、DDA探测器的校正、DDA探测器坏像素的插入、图像显示与存储等。

具体规定了数字图像的显示条件最低要求。涉及探测器、扫描器等的操作性要求,一般都简单要求应按制造厂推荐方法、条件、程序、规则等进行操作。原则性规定了定期校正或性能评定。

5.数字图像质量控制(www.xing528.com)

主要规定内容包括:图像质量指标、测定器件、测定方法、最低图像质量值。

(1)图像质量 规定采用常规像质计和双丝像质计测定,常规像质计测定像质值,双丝像质计测定图像不清晰度。常规像质计测定像质值的要求与胶片射线照相检测技术完全相同,双丝像质计测定图像不清晰度是标准做出的规定。

测定图像质量的像质计,应采用ISO 19232-1(线型IQI)、ISO 19232-2(阶梯孔型IQI)、ISO 19232-5(双丝型IQI)规定的像质计。

(2)关于最低图像质量值 标准规定可分为三个方面:基本要求、降低规定和补偿规则。关于图像质量值基本要求,标准按技术级别、透照方式、厚度分段规定了常规像质计值,按技术级别、厚度分段规定了双丝像质计值要求。对部分γ射线源、部分厚度,对常规像质计值做出了图像质量可降低要求的规定。补偿规则主要是规定当图像质量值的双丝像质计测定值未达到规定要求时,可由线型像质计(或阶梯孔型像质计)达到更高值补偿。这是标准处理数字射线检测面临的具体问题的一个具体规定。

标准也具体规定了测定图像质量时像质计的位置、放置等要求。具体规定可分为:双丝型像质计放置要求、常规像质计放置要求和小管常规像质计放置要求。

6.人员资格

在一般要求中,标准规定采用本标准进行数字射线检测工作的人员,应按ISO9712标准认证或按与ISO 9712标准等同的相关工业部门标准认证,此外,还应通过附加的工业数字射线检测技术培训与资格鉴定。

一般来说由于放大倍数对工件源侧和探测器侧不同,因此应按工件透照中心计算,并且源侧和探测器侧的放大倍数差应不超过±25%。

(5)关于一次透照区 规定包括三方面内容:源在中心一次透照、环形接头透照次数、按技术级别和透照厚度比控制透照次数。具体规定与胶片射线照相检测技术相同。特殊的是按透照厚度比控制时,附加了厚度变化引起的规格化信噪比值限制。

4.其他技术要求

主要包括图像扫描与读出、DDA探测器的校正、DDA探测器坏像素的插入、图像显示与存储等。

具体规定了数字图像的显示条件最低要求。涉及探测器、扫描器等的操作性要求,一般都简单要求应按制造厂推荐方法、条件、程序、规则等进行操作。原则性规定了定期校正或性能评定。

5.数字图像质量控制

主要规定内容包括:图像质量指标、测定器件、测定方法、最低图像质量值。

(1)图像质量 规定采用常规像质计和双丝像质计测定,常规像质计测定像质值,双丝像质计测定图像不清晰度。常规像质计测定像质值的要求与胶片射线照相检测技术完全相同,双丝像质计测定图像不清晰度是标准做出的规定。

测定图像质量的像质计,应采用ISO 19232-1(线型IQI)、ISO 19232-2(阶梯孔型IQI)、ISO 19232-5(双丝型IQI)规定的像质计。

(2)关于最低图像质量值 标准规定可分为三个方面:基本要求、降低规定和补偿规则。关于图像质量值基本要求,标准按技术级别、透照方式、厚度分段规定了常规像质计值,按技术级别、厚度分段规定了双丝像质计值要求。对部分γ射线源、部分厚度,对常规像质计值做出了图像质量可降低要求的规定。补偿规则主要是规定当图像质量值的双丝像质计测定值未达到规定要求时,可由线型像质计(或阶梯孔型像质计)达到更高值补偿。这是标准处理数字射线检测面临的具体问题的一个具体规定。

标准也具体规定了测定图像质量时像质计的位置、放置等要求。具体规定可分为:双丝型像质计放置要求、常规像质计放置要求和小管常规像质计放置要求。

6.人员资格

在一般要求中,标准规定采用本标准进行数字射线检测工作的人员,应按ISO9712标准认证或按与ISO 9712标准等同的相关工业部门标准认证,此外,还应通过附加的工业数字射线检测技术培训与资格鉴定。

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