5.5.1.1 SDH设备检查及本机测试
1.电源及告警功能检查
供电条件应符合下列规定：
1）电源电压范围应满足设备使用要求。
2）电源保护转换应符合设备技术规定。
告警功能检查应按表5-6所列项目进行，指标应符合设备技术规定。
表5-6 告警功能检查
2.光接口检查及测试
光接口检查的项目如下：
1）消光比。
2）发送信号眼图。
3）激光器工作波长。
4）最大均方根谱宽。
5）最小边摸抑制比。
6）光接口回波损耗。
检查设备出厂记录或厂验记录，光接口检查项目应达到设计要求。
光接口测试项目如下：
（1）平均发送功率测试
在S参考点测得的平均光功率应满足设计要求；在ODF架上测试时，允许引入不大于0.5dB损耗。测试连接如图5-1所示。
（2）接收机灵敏度测试
图5-1 平均发送光功率测试
在R参考点测得的平均接收功率的最小可接收值应符合设计规定。测试连接如图5-2所示。
图5-2 接收机灵敏度测试
（3）接收机过载功率测试
在R参考点，接收机的过载功率值应符合设计文件规定。
（4）光发送光信号眼图
在S参考点的光信号形状符合图5-3中的要求，边界值应符合表5-7中的要求，测试配置如图5-4所示。
3.电接口检查及测试
电接口检查项目如下：
1）输入口允许衰减。
2）输出口信号（包括AIS）比特率。
3）PDH接口输出信号波形和参数。
4）输入口回波损耗。
检查出厂检验记录或厂验记录，电接口检查项目应达到设计要求。
图5-3 光发送端眼图模板
4.输入口允许比特率容差测试
输入口收到规定频偏信号时，应能正常工作，通常以设备不出现误码来判断。指标应符合表5-8中的要求，测试连接如图5-5所示。
表5-7 眼图模板参数
图5-4 光发送信号眼图测试配置图
表5-8 比特率，容差指标
图5-5 输入口允许比特率及容差的测试
5.SDH设备抖动测试
1）SDH网络输出口的最大允许输出抖动应不超过表5-9中规定的数值，测试连接如图5-6所示。
表5-9 SDH网络接口最大允许输出抖动
图5-6 网络接口输出抖动测试
2）数字段输出口的最大允许输出抖动应符合表5-9括弧中所规定的数值。工程中按设计要求测试。
对SDH设备的STM-N输入口的抖动容限的规定见如下描述。测试连接如图5-7所示。
STM-1e接口的输入抖动容限应符合表5-10和图5-8的规定。
STM-1o接口的输入抖动容限应符合表5-11和图5-9的规定。
STM-4接口的输入抖动容限应符合表5-12和图5-10的规定。
STM-16接口的输入抖动容限应符合表5-13和图5-11的规定。
STM-64接口的输入抖动容限应符合表5-14和图5-12的规定。
图5-7 SDH设备的网络STM-N输入口的抖动容限测试
表5-10 STM-1e接口的输入抖动容限
图5-8 STM-1e接口的输入抖动容限
表5-11 STM-1o接口的输入抖动容限
图5-9 STM-1o接口的输入抖动容限
表5-12 STM-4接口的输入抖动容限
图5-10 STM-4接口的输入抖动容限
表5-13 STM-16接口的输入抖动容限
图5-11 STM-16接口的输入抖动容限
表5-14 STM-64接口的输入抖动容限
图5-12 STM-64接口的输入抖动容限
SDH设备在PDH接口的映射抖动指标应符合表5-15中的要求。待定值应符合设计要求。测试连接如图5-13所示。
表5-15 映射抖动
(www.xing528.com)
SDH设备在PDH接口的结合抖动指标应符合表5-16中的要求，测试连接如图5-13所示。
图5-13 SDH设备在PDH接口的映射/结合抖动测试
表5-16 结合抖动
SDH设备的PDH接口的抖动性能。SDH信号在SDH/PDH边界处，任应满足原有PDH网络的抖动性能要求。
PDH网络接口的最大允许输出抖动应符合表5-17中的要求。
表5-17 PDH网络接口最大允许输出抖动
SDH设备的PDH支路输入口抖动容限应符合表5-18和图5-14的要求。测试连接如图5-15所示。
表5-18 SDH设备PDH支路输入口抖动容限参数
图5-14 SDH设备PDH支路输入口抖动容限
SDH设备的固有抖动，在输入无抖动的情况下，以60s的时间间隔观测STM-N输出接口的固有抖动，其值不应超过表5-19中的规定，或应符合设计要求，测试连接图如图5-16所示。
6.时钟性能检查
时钟性能检查项目如下：
1）AIS频率精度。
2）时钟锁定范围。
检验出厂记录或厂验记录，失踪性能检查项目应达到设计要求。
时钟性能测试。SDH设备的内部自由振荡时钟频率精度验收指标不得超过±4.6ppm。测试连接如图5-17所示。
图5-15 SDH设备PDH支路输入口抖动测试方法
表5-19 SDH设备的固有抖动要求
图5-16 SDH设备的固有抖动测试
图5-17 自由振荡时钟频率精度测试
5.5.1.2 WDM/OTN设备检查及本机测试
1.合波器（OMU）测试
插入损耗测试：在合波器输入、输出端口用光谱仪分别逐个测试各不同波长的光功率电平，并按如下方法分别计算出各波长通道的插入损耗：
插入损耗=输入端口光功率电平值（dBm）-输出端口光功
率电平值（dBm）
计算结果应满足各波长通路插入损耗的设计指标要求。光谱仪分辨率宜设置为0.2nm状态测试。
插入损耗最大差异的计算：通过上述方法测得各不同通路的插入损耗，其中的最大值和最小值之差应满足各波长通路损耗的最大差异的设计指标要求。
2.分波器（ODU）测试
插入损耗测试：在分波器输入、输出端口用光谱仪分别逐个测试各不同波长的光功率电平，并按如下方法分别计算出各波长通路的插入损耗：
插入损耗=输入端口光功率电平值（dBm）-输出端口光功率电平值（dBm）
计算结果应满足各波长通路插入损耗的设计指标要求。光谱仪分辨率宜设置为0.2nm状态测试。
插入损耗最大差异的计算：通过以上方法测得各不同波长通路的插入损耗，其中的最大值和最小值之差就是插入损耗最大差异，该结果应满足各波长通路插入损耗的最大差异的设计指标要求。
相邻通路隔离度测试（见图5-18）：在分波器的输入端（或MPI-R点）将各不同波长的信号接入，并通过调整发送端OUT的衰耗器使得各波长的光功率在分波器输入端相同，用光谱仪分别在分波器输出端（SDn点）第i通路测试波长λi的主纵模峰值光功率电平Pi，并测试波长λi+1和λi-1偶合到本通路的串扰峰值光功率电平，找出最大串扰光功率电平P串，则λi通路的相邻通路隔离度，可由如下方法计算出：
相邻通路隔离度=Pi-P串
采用同样方法计算其他各波长通路的相邻通路隔离度，计算结果应满足相邻通路隔离度的设计指标要求。光谱仪分辨率宜设置为0.2nm状态测试。
非相邻通路隔离度测试：参照上述方法，在非相邻各波长的串扰峰值光功率电平中选最大值，并计算各波长通路的非相邻通路隔离度。计算结果应满足非相邻通路隔离度的设计指标要求。
3.光分插复用器（OADM）测试
插入损耗测试：参照上述两项把本站落地的波长的插入损耗分别测试计算，每个波长分两个方向、分波和合波共4个插入损耗值，各不同波长通道测试结果应满足插入损耗的设计指标要求。
图5-18 通路隔离度测试
插入损耗最大差异的计算：通过上条测得各不同通路的插入损耗，其中的最大值和最小值之差就是插入损耗最大差异，该结果应满足各通路插入损耗最大差异的设计指标要求。
通路隔离度测试：OADM设备上下通路在3个波长之内时，测试每个波长通路相邻通路的隔离度。在4个波长以上时，测试每个波长通路的非相邻通路隔离度，计算结果应满足通路隔离度的设计指标要求。
4.波长转换器（OTU）测试
平均发送光功率测试：用光功率计测量OTU输出端口的光功率，测得的功率电平值应满足设计指标要求。
接收灵敏度测试：设备工作在误码率BER≤1.00E-12的情况下，在OTU的输入端口测得输入设备平均光功率的最小值，该功率电平值就是接收灵敏度，测试结果应满足设计指标要求。现场为节约测试时间，可在误码率BER≤1.00E-10的情况下测试，指标严格为1dB。
过载光功率测试：设备工作在误码率BER≤1.00E-12的情况下，在OTU的输入端口测得输入设备平均光功率的最大值，该功率电平值就是过载光功率，测试结果应满足设计指标要求。现场为节约测试时间，可在误码率≤1.00E-10的情况下测试，指标严格为1dB。
中心频率及偏移测试：用多波长计或光谱仪在OTU的输出端口测试各OTU的中心频率（波长），计算与其标称值的差，该差值就是中心频率便宜，结果应满足设计指标要求。光谱仪分辨率应设置为0.07nm或仪表可设置的最小值状态测试。
最小边模抑制比测试：用光谱仪在OTU的输出端口测试OTU的主纵模功率电平值和最大边模的功率电平值，计算两者的差值，该差值就是最小边模抑制比，结果应满足设计指标要求。光谱仪分辨率宜设置为0.1nm状态测试。
最大-20dB谱宽测试：用光谱仪在OTU的输出端口测试各OTU的主纵模峰值功率电平降低20dB点的主纵模谱宽值，该值就是最大-20dB谱宽，结果应满足设计指标要求。当设计指标要求测试-3dB谱宽指标时，可类似测试，结果应满足-3dB谱宽指标要求。光谱仪分辨率应设置为0.07nm或仪表可设置的最小状态测试。
抖动产生测试：在设备和仪表工作稳定状态下，保持传输测试仪接收光功率在其测试抖动的要求范围内，测量OTU的无输入抖动时的最大输出抖动，测试60s的累计值，结果应满足表5-20中的要求。
表5-20 WDM/OTN设备的固有抖动要求
输入抖动容限：在设备和仪表工作稳定状态下，设备输入抖动容限与SDH设备中的相同速率接口输入抖动容限指标要求相同。
抖动转移特性测试：在设备抖动转移函数应在图5-19所示曲线的下方，参数值见表5-21。在校准时，仪表接收光功率和其在测试时的接收光功率偏差应控制在1dB范围内，仪表设置的测试频率值和频点数应与测试时的相应值保持一致。
图5-19 OTU抖动转移特性
表5-21 OTU抖动转移特性参数值
5.子速率透明复用器（T-MUX）测试
平均发送光功率：设备正常发光情况下，用光功率在复用器群路输出端口和支路输出端口分别测试其绝对光功率电平，测试结果应满足设计指标要求。
接收灵敏度测试：设备工作在误码率BER≤1.00E-12的情况下，在复用器的输入端口测得输入设备平均光功率的最小值，该功率电平值就是接收灵敏度，测试结果应满足设计指标要求。现场为节约测试时间，可在误码率BER≤1.00E-10的情况下测试，指标严格为1dB。
过载光功率测试：设备工作在误码率BER≤1.00E-12的情况下，在复用器的输入端口测得输入设备平均光功率的最大值，该功率电平值就是过载光功率，测试结果应满足设计指标要求。现场为节约测试时间，可在误码率BER≤1.00E-10的情况下测试，指标严格为1dB。
输入抖动容限测试：与OTU单元测试要求及方法一致。
抖动产生测试：与OTU单元测试要求及方法一致。
6.光线路放大器（OLA）测试
WDM/OTN设备内的光纤路放大器与其他外置光放大器测试方法基本一致，主要测试内容包括：
总输出光功率范围：可在OLA输入端正常接收来自前一再生站（或光放站）多个波长光信号的系统状态下，在OLA的输出端串联一个可调光衰减器接入待测OLA的输入端。
调减可调光衰减器的损耗值，使待测OLA的输入端光功率，在总输入光功率范围指标的最高值时，测试待测OLA的输出端的光功率，就是输出光功率范围的最高值。同样调增可调光衰减器的衰耗值，使待测OLA的输入端光功率在总输入光功率范围指标的最低值时，可测得待测OLA输出光功率范围的最低值，测试结果应不大于设计指标要求的范围。
总输入光功率范围：分别调增和调减可调光衰减器的衰耗值，是待测OLA输出端光功率正好处在总输出光功率范围指标要求值时，分别测试待测OLA的输入端光功率，待测OLA总输入光功率范围的最低和最高值，测试结果应不小于设计指标要求的范围。
7.光谱分析模块（OSA）测试
中心波长精度：OSA测试的中心波长值，与多波长计或光谱仪测试中心波长值的偏差，测试结果应满足设计指标要求。
功率精度：OSA测试的各波道功率值，与光谱仪测试各波道功率值的偏差，测试结果应满足设计指标要求。
光信噪比精度：在光信噪比≤25dB时，OSA测试的光信噪比值，与光谱仪测试的管光信噪比值的偏差，测试结果应满足设计指标要求。
8.光监控通道（OSC）测试
平均发送光功率测试：在OSC的发送端输出端口用光功率计测试该点的平均发送光功率，结果应满足设计指标要求。
工作波长及偏差测试：在OSC的发送盘输出端口用多波长计或光谱仪测试中心波长值，并计算与其标称值的差，该差值就是工作波长偏差，结果应满足设计指标要求。
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