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单相交流调压电路性能研究:自关断器件的实验8优化

时间:2023-06-21 理论教育 版权反馈
【摘要】:本实验系统以调光为例,进行斩波调压研究。实验图8-1 斩控式单相交流调压电路实验图8-1 斩控式单相交流调压电路实验图8-2 斩控式单相交流调压波形图脉宽调制信号由专用集成芯片SG3525产生,有关SG3525的内部结构、功能、工作原理与使用方法等可参阅直流斩波电路实验。

单相交流调压电路性能研究:自关断器件的实验8优化

一、实验目的

(1)掌握采用自关断器件的单相交流调压电路的工作原理、特点、波形分析与使用场合。

(2)熟悉PWM专用集成电路SG3525的组成、功能、工作原理与使用方法。

二、实验内容

(1)PWM专用集成电路SG3525性能测试。

(2)控制电路相序与驱动波形测试。

(3)带与不带电感时负载与MOS管两端电压波形测试。

(4)在不同占空比条件下,负载端电压、负载端谐波与输入电流的位移因数测试。

三、实验系统组成及工作原理

随着自关断器件的迅速发展,采用晶闸管移相控制的交流调压设备,已逐渐被采用自关断器件(功率MOSFET、IGBT等)的交流斩波调压所代替,与移相控制相比,斩波调压具有下列优点:

(1)谐波幅值小,且最低次谐波频率高,故可采用小容量滤波元件。

(2)功率因数高,经滤波后,功率因数接近于1。

(3)对其他用电设备的干扰小。

因此,斩波调压是一种很有发展前途的调压方法,可用于马达调速、调温、调光等设备。本实验系统以调光为例,进行斩波调压研究。

斩波调压的主回路由MOSFET及其反并联的二极管组成双向全控电子斩波开关,其实验图如实验图8-1所示。当MOS管分别由脉宽调制信号控制其通断时,则负载电阻RL上的电压波形如实验图8-2(b)所示(输出端不带滤波环节时),显然,负载上的电压有效值随PWM信号的占空比而变,当输出端带有滤波环节时的负载端电压波形如实验图8-2(c)所示。

实验图8-1 斩控式单相交流调压电路

实验图8-2 斩控式单相交流调压波形图

脉宽调制信号由专用集成芯片SG3525产生,有关SG3525的内部结构、功能、工作原理与使用方法等可参阅直流斩波电路实验。

控制系统中由变压器T、比较器和或非门等组成同步控制电路以确保交流电源的2端为正时,MOS管VT1导通;而当交流电源的1端为正时,MOS管VT2导通。

四、实验设备和仪器

(1)现代电力电子及直流脉宽调速;(www.xing528.com)

(2)万用表

(3)双踪示波器

五、实验方法

1.SG3525性能测试

(1)测量“1”端。

(2)输出最大与最小占空比测量。测量“2”端。

2.控制电路相序与驱动波形测试

将“UPW”的“2”端与控制电路的“14”端相连。将电位器RP左旋到底,用双踪示波器观察并记录下列各点波形:

(1)控制电路的“11”“12”与地端间波形,应仔细测量该波形是否对称互补。

(2)控制电路的“13”“15”与地端间波形。

(3)主电路的“4”与“5”及“6”与“5”端间波形。

3.不带电感时负载与MOS管两端电压波形测试

将主电路的“3”与“4”短接,将UPW的电位器RP右旋到大致中间的位置,测试并记录负载与MOS管两端电压波形。

4.带电感时负载与MOS管两端电压波形测试

将主电路的“3”与“4”不短接,将UPW的电位器RP右旋到大致中间的位置,测试并记录负载与MOS管两端电压波形。

5.不同占空比D时的负载端电压测试

实验中,将电位器RP从左至右旋转4~5个位置,分别观察并记录SG3525的输出“2”端脉冲的占空比、负载端电压大小与波形

6.不同占空比D时的负载端谐波大小的测试

分别观察并记录RP左旋与右旋到底时的负载端波形,从而判断出占空比D大小对负载端谐波大小的影响。

7.输入电流的位移因数测试

(1)将主电路的“3”“4”两端用导线短接,即不接入电感。

(2)在不同占空比条件下,用双踪示波器同时观察并记录“2”与“1”端和“2”与“6”端间波形。

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