（1）统计公差的三个层次：质量特性相关过程的统计公差可以分为上层、中层和下层三个层次，以保证多种形式的质量要求传递到统计过程控制。上层是由单一数值表示的质量指标或过程能力指数的极限值。下层为具有量纲的统计参数的允许变动范围。中层则是将上层质量要求传递到下层的基于二维平面的统计公差。
（2）过程质量指标和过程能力指数的统计公差
1）单一数值表示的质量指标的统计公差
P∗d——不合格率上限；
P∗c——中间区或优等率下限；
P∗ql——平均质量损失率上限。
在指标符号中用“∗”表示其相关的数值是设定值。
P∗d不代表验收允许的产品不合格品率，而只是对质量特性相关制造过程的测评，用于质量控制和改进。
2）由单一数值表示的过程能力指数的统计公差(www.xing528.com)
C∗pk——指数下限；
C∗pm——指数下限。
（3）标准化的二维统计公差：标准化的二维统计公差是将上层统计公差转化为下层统计公差不可缺少的标准化界面。它为统计过程控制提供了定量指导。为适应不同计量型控制图的参数设计需求，本部分提供Cp-k和Cp-δ两个二维平面。
二维统计公差的数组表达形式
（C∗p，k∗）和（C∗p，δ∗）是以数组形式表现的标准化统计公差，体现了对过程离散程度和位置偏移的各自控制要求，其涵义为：
（4）过程统计参数的统计公差：下层统计公差为具有量纲的统计参数的允许变动范围。过程统计参数的统计公差应用于具有实际量纲的基于二维平面的统计参数，推荐采用过程标准差-均值偏移（σ-Δ）或过程标准差-均值（σ-μ）二维平面。
具有量纲的基于二维平面的统计公差数组表达形式：（σ∗，Δ∗），其涵义为：
（5）多个质量指标的统计公差：多个质量指标的统计公差可用所涉及的各单个质量目标表达式联立形式表达。如：
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