【摘要】：光纤涂覆层几何参数是光纤的基本参数，在进行光纤熔接、连接、成缆和测量等后续工序时需要预知光纤的涂覆层几何特性。测量方法有机械法和侧视光分布法。侧视光分布法是涂覆层几何参数测量的基准测量方法，一般有光学显微镜和激光器测量仪两种方法。测量时不像测量光学特性需要从端面进行，这两种方法对光纤试样的端面不做要求，只需一小段长度的光纤即可。对A4类光纤不定义涂覆层／包层同心度误差。
光纤涂覆层几何参数是光纤的基本参数，在进行光纤熔接、连接、成缆和测量等后续工序时需要预知光纤的涂覆层几何特性。测量方法有机械法和侧视光分布法。侧视光分布法是涂覆层几何参数测量的基准测量方法，一般有光学显微镜和激光器测量仪两种方法。
测量时不像测量光学特性需要从端面进行，这两种方法对光纤试样的端面不做要求，只需一小段长度的光纤即可。
（1）光学显微镜测量方法
·涂覆层不圆度：
·涂覆层／包层同心度误差（μm）：［（Xpc－Xcl）2＋（Ypc－Ycl）2］1／2式中：A和B——最佳拟合椭圆的长轴和短轴；(www.xing528.com)
Xpc、Xpc——涂覆层中心的坐标；
Xcl、Ycl——包层中心的坐标。
对A4类光纤不定义涂覆层／包层同心度误差。
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