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弯折试验:光缆和套管的抗弯性能验证与最小弯曲半径能力

时间:2023-06-20 理论教育 版权反馈
【摘要】:试验的目的是衡量光缆或套管成圈时直径缩小到规定值时是否引起光缆或松套管弯折。松套结构光缆最害怕松套管被压扁和弯折,通过验证含光纤套管的抗弯折性能,确定光缆安装期间最小弯曲半径的能力,以及接头时盘存在接头盒内的情况。由于松套管直径小,为了弯折试验的准确性,可以制作简易的装置,如图9.5.9所示。由于松套管成缆时已弯曲变形,可使用热风扇在温度约80℃下平整试样,但要防止因过热而损坏试样。

弯折试验:光缆和套管的抗弯性能验证与最小弯曲半径能力

试验的目的是衡量光缆或套管成圈时直径缩小到规定值时是否引起光缆或松套管弯折。松套结构光缆最害怕松套管被压扁和弯折,通过验证含光纤套管的抗弯折性能,确定光缆安装期间最小弯曲半径的能力,以及接头时盘存在接头盒内的情况。松套管需取自光缆里面的套管。

光缆的弯折试验不需要特殊的设备。由于松套管直径小,为了弯折试验的准确性,可以制作简易的装置,如图9.5.9所示。由于松套管成缆时已弯曲变形,可使用热风扇在温度约80℃下平整试样,但要防止因过热而损坏试样。

套管弯折试验时,长度L1的试样如图9.5.9所示安装在透明护罩内,透明罩厚度通常应为套管直径的3倍,以保证试验时套管保持在同一平面内并便于观察。可移动夹头和固定夹头分开距离L2,即可移动夹具位于位置1。然后可移动夹头以约10mm/s的速度从位置1移动到相距L的位置2,然后返回到位置1,构成1个循环。试验参数L,L1,L2的值和循环次数可结合运行使用条件确定,但由于在试验设备内弯曲的缘故,环的最小直径是不固定的,而且只受到依套管直径而定的试样固定长度L1和移动长度L的控制。

在试验期间应未见套管弯折。(www.xing528.com)

光缆弯折试验,应构成一个环,如图9.5.10中①所示,在圆环底部的两端,如图9.5.10中②所示,用处于一个平面内的两个力慢慢拉,使圆环的直径减小到有关规范规定的最小值,应不发生如图9.5.10中③所示的弯折。

影响套管的弯折能力,主要是套管的厚度。光缆的弯折能力则是由光缆自身的刚性所决定,越柔软的光缆,抗弯折能力越强。但以FRP作为中心加强件的光缆,抗弯折能力肯定是不如钢丝的抗弯能力。

图9.5.10 光缆弯折试验示意图

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