IEC60801-3测试方法在应用中的优势及使用建议

过去曾有好几年，起码对那些用于家居、商业和轻工业环境的通用抗扰度标准EN50082-1：1992的产品（现已废弃不用了）来讲，IEC60801-3是用于辐射RF抗扰度的正规完整符合性测试方法。

这个方法采用的屏蔽室既可以安装有RF吸波器也可以不安装RF吸波器。并采用闭环路方法来控制EUT周围的场强（经常称之为调整环）。其装置和测量过程如下：

在EUT附近设置一个场传感器，并在发射天线进行扫描的过程中，根据该传感器测量到的场强来实时调节所施加到发射天线的功率以保证提供正确的场强。

直观上看起来这个方法似乎没有什么问题，但在应用实践中它有以下几个缺点：

1）场传感器所测量到的场强仅是在某一点上的场强（它所设置的那一点上的场强）。由于屏蔽室内的未加控制的谐振，在EUT周围其他点上的场强几乎肯定会与该点场强存在很大的差异。特别是当EUT的物理尺寸大到与波长相比拟的情况下，上述情况尤为严重。10∶1的场强差异并不少见，在某些情况下，也有可能出现比这更大的差异。

2）假如，碰巧该传感器被放置在一个特定频率的零点（场强）处，其结果是，该方法将会试图通过增加所提供的功率来修正（增加）该处的场强。而这类功率的增加经常会导致其他位置上的场强大大超过预定值。(www.xing528.com)

3）在前进频率的应用中，会出现与上述类似的情况：为了试图找到每一步进的正确场强可能会导致短暂的所施加的功率的过度校正，从而导致瞬态的超值场强而使产品失效（比如微处理器的程序功能的崩溃）。

显然此时的这个方法不仅完全有可能导致无意中EUT的超值测试也有可能导致不充分测试。

因此，此时使用具有熟练技能和丰富经验的测试人员就会变得至关重要。因为他们可以充分的利用他们的熟练的测试技巧和丰富的经验对在屏蔽室中可能存在的场强变化作出判断，并对测试失败进行有针对性的调查。而一个新手则往往甚至无从下手。假如他们发现在一个潜在敏感的位置上出现极强的场强的话，他们通常会将传感器移到不同的位置并进行重复测试以判断测试失败是否仍会发生。

在谐振结构中（EUT加上测试室本身）倘若能对不同位置上的场的均匀度有所控制的话，极强的场强很可能将不再会出现。或即便出现，其出现位置也可能距EUT有相当的距离，而不会产生如前述的影响。总之，这个方法如果应用得当，是有可能防止超值测试的。但完全无法对不充分测试进行控制。