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应用说明:6.12发射测量优化方案

时间:2023-06-22 理论教育 版权反馈
【摘要】:由于一个被测设备的物理限制而无法在基本标准所规定的测试场地进行测试时,唯一可用来收集被测设备EMC性能数据的方法是在一个非标准测试环境对它进行测试。也只有这样才有可能获得足够的EMC数据。在实践中,为了确保设备具有所要求的性能以履行合同中的规定并符合法规要求,制造厂商被要求在装运它们的设备以前要对其EMC发射性能进行检验。

应用说明:6.12发射测量优化方案

由于一个被测设备的物理限制(比如尺寸、电源、伺服要求等)而无法在基本标准所规定的测试场地进行测试时,唯一可用来收集被测设备EMC性能数据的方法是在一个非标准测试环境对它进行测试。也只有这样才有可能获得足够的EMC数据。并将数据呈报EMC合格验证机构(Competent Body),该机构将根据所呈报的数据来评估被测设备是否符合EMC环境的保护要求。

在有可能对设备在它的最终运行位置上进行测试的场合,就有可能使用IEC/EN550来对它的发射进行测试。对许多产品而言,这也的确是一个可行的方案。

大家都知道,绝大多数工业产品在被拆卸和装运到它们的最终目的地以前,是在制造厂商完成设计、制造、装配,并通过试运行的。在实践中,为了确保设备具有所要求的性能以履行合同中的规定并符合法规要求,制造厂商被要求在装运它们的设备以前要对其EMC发射性能进行检验。(www.xing528.com)

向合格附件(发射测量应用注释)将会识别出与测试一个设备相关的一些主要问题。而这里的测试是指在一个非理想场地,按照基本标准EN55011(可替代的有IEC 55011,CISPR11)所执行的测试,而不是按照其他什么方式进行的测试。这是读者必须充分理解和认识到的。

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