缺陷深度对漏磁信号的影响分析

取缺陷的宽度、长度、磁化强度等条件相同，缺陷的深度分别为壁厚的12.5%、25%、37.5%、50%、62.5%、75%、87.5%和100%（相应的编号为1、2、3、4、5、6、7、8），其中100%壁厚深度的缺陷为通孔，采用有限元法仿真研究缺陷深度和漏磁信号之间的关系。

不同深度缺陷的漏磁信号径向分量B_x如图3-12所示，漏磁信号轴向分量B_y如图3-13所示。由这两个图清晰可知，漏磁信号曲线的形状基本相同，B_x峰峰值随着缺陷深度的增加而逐渐增加，B_y峰谷值随着缺陷深度的增加而明显增加，随着缺陷深度的增加泄漏出的漏磁场就越多。

表3-2列出了不同深度的缺陷对应的漏磁信号特征量。由表中信息可知，B_x峰峰间距S_xp-p和By微分信号峰峰间距DS_yp-p不随缺陷深度变化，这两个信号特征量不能用于评价缺陷深度。

图3-12 不同深度缺陷的漏磁信号径向分量Bx

图3-13 不同深度缺陷的漏磁信号轴向分量By

表3-2 不同深度的缺陷对应的漏磁信号特征量

(www.xing528.com)

①此处用壁厚的百分数表示缺陷深度。

缺陷深度与B_x峰峰值B_xp-p的关系如图3-14所示，缺陷深度与B_y峰谷值B_yp-p的关系如图3-15所示。

图3-14 缺陷深度与B_x峰峰值B_xp-p的关系

图3-15 缺陷深度与B_y峰谷值B_yp-p的关系

从图3-14和图3-15可以看出，B_x峰峰值B_xp-p和B_y峰谷值B_yp-p均与缺陷深度成很好的正比例线性关系，随着缺陷深度增加而增加。因此，B_x峰峰值B_xp-p和B_y峰谷值B_yp-p均可很好地描述缺陷深度，适合作为评价缺陷深度的特征量。