【摘要】:缺陷相同时,传感器和磁化器同时产生提离值,在2~20mm范围内,从小到大依次取6个提离值。对于传感器和磁化器同时产生提离值情况,不同的组合提离值对应的缺陷漏磁信号径向分量Bx如图3-25所示,漏磁信号轴向分量By如图3-26所示。由图3-27、图3-28和表3-5中信息可知,漏磁信号峰值随着组合提离值增大而迅速降低,但Bx峰峰间距Sxp-p却随之增加,这是由于漏磁信号Bx基线降低造成的,它将影响对缺陷特征的准确评价。
缺陷相同时,传感器和磁化器同时产生提离值,在2~20mm范围内,从小到大依次取6个提离值。对于传感器和磁化器同时产生提离值情况,不同的组合提离值对应的缺陷漏磁信号径向分量Bx如图3-25所示,漏磁信号轴向分量By如图3-26所示。
图3-25 不同的组合提离值漏磁信号径向分量
图3-26 不同的组合提离值漏磁信号轴向分量
由图3-25和图3-26可清晰看出,漏磁信号径向的基线随着组合提离值的增加而降低,Bx峰峰值随着组合提离值的增加而明显降低;漏磁信号轴向分量的基线随着组合提离值的增加而增加,By峰谷值随着组合提离值的增加亦明显降低;当组合提离值为20mm时,Bx峰峰值和By峰谷值接近为零。
组合提离值与Bx峰峰值Bxp-p的关系如图3-27所示,组合提离值与By峰谷值Byp-p的关系如图3-28所示。
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图3-27 组合提离值与Bx峰峰值Bxp-p的关系
图3-28 组合提离值与By峰谷值Byp-p的关系
表3-5列出了不同组合提离值对应的缺陷漏磁信号特征量。
表3-5 不同组合提离值对应的缺陷漏磁信号特征量
由图3-27、图3-28和表3-5中信息可知,漏磁信号峰值随着组合提离值增大而迅速降低,但Bx峰峰间距Sxp-p却随之增加,这是由于漏磁信号Bx基线降低造成的,它将影响对缺陷特征的准确评价。
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