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如何进行同轴对性能测试

时间:2023-06-24 理论教育 版权反馈
【摘要】:调节可变分压器及数字电压表,使数字电压表显示五位数字。同轴开关置于Ⅱ支路上,调节电平振荡器到所需测试频率。将可变衰减器调节到接近被测同轴对衰减值的档位上,然后将同轴开关置于Ⅱ支路上,进一步调节衰减器的衰减值,使选频电平表的表头指针指于0dB附近。允许数字的差值相当于1×10-3dB,如果差别超过此值,测试应重新进行。

如何进行同轴对性能测试

1.从图8-17~图8-19中选定测试系统的接线型式

2.测量测试系统的失配衰减

1)根据所选定的测试系统接线型式,选定测量测试系统失配衰减的接线型式,并连接好系统。

2)分别在Ⅰ、Ⅱ两个支路上进行测量。测量时,可变衰减器应置于“全零”(或最低值)位置。当失配衰减达不到32dB时,应加放具有一定衰减的缓冲衰减器,使失配衰减达到32dB。

3.测量测试系统的串音衰减值

根据所选定的测试系统接线型式,按图8-17~图8-19要求连接好系统。或在连接试样的两根引线端头上分别接上带有屏蔽的75Ω电阻。直接插接或通过短段的同轴对连接。

振荡器调到零电平输出,可变衰减器放在“全零”(或最低值)位置。

将同轴开关先放置在Ⅱ支路上,调整选频表的频率及灵敏度。使选频表指示为零电平,或与衰减器最低值相应的电平值,再将同轴开关放置于Ⅰ支路上,提高选频表灵敏度,读出接收电平值。两次电平的差值即为系统的串音衰减值。

4.调试测试系统

根据所选定的测试系统接线型式,按图8-17~图8-19要求连接好测试系统。

选取一根与试样结构相同,长约100mm的同轴对,代替试样接入测试系统。

接通电源,预热测试仪器,稳定后开始调试。将同轴开关放置在Ⅱ支路上,振荡器的输出阻抗置于75Ω;输出电平调到0或-10dB;输出频率调到最高测试频率;可变衰减器(图8-18~图8-19中的A′及A″)置于“全零”(或最低值)位置;选频电平表的输入阻抗置于75Ω,中频带宽调到适当的位置,使数字电压表读数最稳定,在低噪声工作状态下选出振荡器频率。

调节振荡器输出细调或选频电平的灵敏度,使电平表表头指针在0或-10dB附近。

调节可变分压器及数字电压表,使数字电压表显示五位数字。在一次比较测试时间内,当数字电压表的读数的数字差值不超过1×10-3dB时,即可测量系统的修正值。

5.测量系统的修正值

系统修正值的测量应在试样衰减的各个频率点上进行。

采用图8-17所示的串联比较法及图8-18所示的并联比较法接线型式时,将可变衰减器置于零,采用图8-19所示的串关联比较法接线型式时,估计最高测试频率时被测同轴对的衰减,将两只衰减器均放在略大于此值的位置上。

将同轴开关置于Ⅱ支路上,调节可变分压器使数字电压表显示适当数字,记作VⅡY。再将同轴开关置于Ⅰ支路上,读取数字电压表的数值,记作VⅠY。

系统修正值按下列公式计算:

采用图8-17时:978-7-111-40230-5-Chapter08-101.jpg

采用图8-18时:978-7-111-40230-5-Chapter08-102.jpg

采用图8-19时:978-7-111-40230-5-Chapter08-103.jpg

式中 AⅡY——Ⅱ支路衰减器读数;

AⅠY——Ⅰ支路衰减器读数;

ΔAⅡY——Ⅱ支路衰减器读数修正值;

ΔAⅠY——Ⅰ支路衰减器读数修正值。

上述计算式中没有扣除100mm长同轴对的衰减值。(www.xing528.com)

6.测量试样的实际温度

在有恒温室的条件下,将电缆试样放在恒温室内,直到试样护套内导体的直流电阻达到稳定,然后精确测定恒温室的温度,即为试样的实际温度。

在测量衰减常数的环境温度下,测量试样电缆同一护套内的测温线直流电阻Rt

按下式计算出试样同轴对的实际温度

978-7-111-40230-5-Chapter08-104.jpg

7.测量试样同轴对的衰减

(1)串联比较法

将同轴对接入图8-17所示的测试系统。同轴开关置于Ⅱ支路上,调节电平振荡器到所需测试频率。输出电平为0~10dB。

估计在最高测试频率时被测同轴对的衰减,将衰减器放在略大于此值的位置上,该数值作为起始衰减A0

用选频电平表选频。调节输入衰减器,使表头指针指在0dB附近,必要时可调节电平表灵敏度细调。

调节可变分压器使数字电压表显示五位数字,读取该数字,并记作VⅡ。

把同轴开关置于Ⅰ支路上。分压器不动,减小可变衰减器的衰减值,直到选频电平表的表头指于0dB附近。使数字电压表显示的数字与VⅡ接近。读取可变衰减器的读数为A1和数字电压表的读数为VⅠ。

将可变衰减器重新调回到起始衰减A0,然后将同轴开关置于Ⅱ支路上,此时数字电压表显示的值应回到VⅡ。允许数字的差值相当于1×10-3dB,如果差别超过此值,测试应重新进行。

(2)并联比较法

将被测同轴对接入图8-18所示的测试系统,同轴开关置于Ⅰ支路上,调节电平振荡器到所需测试频率。输出电平为0~10dB。

用选频电平表选频。调节输入衰减器,使表头指针指在0dB附近,必要时可调节电平表灵敏度细调。

调节可变分压器使数字电压表显示五位数字,读取该数字,并记作VⅠ。

将可变衰减器调节到接近被测同轴对衰减值的档位上,然后将同轴开关置于Ⅱ支路上,进一步调节衰减器的衰减值,使选频电平表的表头指针指于0dB附近。使数字电压表显示的数字与VⅠ接近。读取可变衰减器的读数为AⅡ和数字电压表的读数为VⅠ。

将同轴开关置于Ⅰ支路上,此时数字电压表显示的值应回到VⅠ。允许数字的差值相当于1×10-3dB,如果差别超过此值,测试应重新进行。

(3)串并连比较法

将被测同轴对接入图8-19所示的测试系统,同轴开关置于Ⅱ支路上,调节电平振荡器到所需测试频率。输出电平为0~10dB。

Ⅱ支路上的可变衰减器置于与测试系统衰减器同样的位置上。

用选频电平表选频,调节输入衰减器,使表头指针指在0dB附近,必要时可调节电平表灵敏度细调。

调节可变分压器使数字电压表显示五位数字,读取该数字,并记作VⅡ。

将同轴开关(S)置于Ⅰ支路上,调节可变衰减器(A),使数字电压表显示的数字与VⅡ接近,读取可变衰减器的读数为AⅠ和数字电压表的读数为VⅠ。

将同轴开关(S)置于Ⅱ支路上,此时数字电压表应回到VⅡ。允许数字的差值相当于1×10-3dB,如果差别超过此值,测试应重新进行。

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