电子陶瓷件表面粗糙度参数及数值分析

GB/T 13841—1992《电子陶瓷件表面粗糙度》适用于电子产品用电子陶瓷件表面粗糙度，其他产品用电子陶瓷件表面粗糙度，也可参照应用。

GB/T 13841中使用的术语如轮廓算术平均偏差Ra、轮廓微观不平度十点高度Rz、轮廓最大高度Ry、取样长度l、评定长度l_n、轮廓微观不平度平均间距S_m、轮廓的单峰平均间距S、轮廓支承长度率t_p、轮廓水平截距C等均符合GB/T 3505—1983表面粗糙度术语 表面及其参数的规定。但是，GB/T 3505—2009《产品几何技术规范（GPS）表面结构 轮廓法 术语、定义及表面结构参数》已代替GB/T 3505—1983，术语参数代号均有变化，应注意对照。GB/T 3505—2009的有关术语参数参见表3-1和表3-2。

电子陶瓷件表面粗糙度参数为轮廓算术平均偏差Ra、轮廓微观不平度十点高度Rz和轮廓最大高度Ry，按需要从上述3项中选取一个或两个表面粗糙度参数，推荐优先选用Ra。Ra的数值参见表3-21塑料件表面粗糙度Ra数值，但表3-21中的Ra16mm、20mm、25mm不属于电子陶瓷件表面粗糙度Ra数值。Rz和Ry的数值参见表3-22塑料件表面粗糙度Rz和Ry数值，但表3-22中的125mm、160mm、200mm不属于电子陶瓷件表面粗糙度Rz、Ry的数值。

取样长度l为0.08mm、0.25mm、0.8mm、2.5mm、8mm。评定长度l_n=5l。

按表面功能和质量要求给定表面粗糙度，否则可以不规定，也不需要检查。在规定表面粗糙度要求时，必须给出表面粗糙度参数值和测定时的取样长度两项基本要求，必要时，可以规定加工纹理、加工方法及加工顺序等。表面粗糙度的参数值是指在垂直于几何表面的截面上获得。如沿表面的截面方向与高度参数最大值方向一致时，则不规定测量截面的方向，否则应在图样上标出。

电子陶瓷件表面粗糙度的标注方法按GB/T 131的规定，见表3-36。

GB/T 13841—1992在附录中，给出了附加的评定表面粗糙度参数轮廓微观不平度的平均间距S_m；轮廓的单峰平均间距S；轮廓支承长度率t_p。S_m和S数值：0.0125mm、0.025mm、0.050mm、0.100mm、0.20mm、0.40mm、0.80mm、1.60mm；t_p数值：10%、15%、20%、25%、30%、40%、50%、60%。(www.xing528.com)

电子陶瓷件不同加工方法和不同材料所能达到的表面粗糙度见表3-24。

表3-24 不同加工方法和不同材料所能达到的表面粗糙度（摘自GB/T 13841—1992）

（续）

注：表中“○”表示可达到的Ra值。