小角X射线散射方法的应用探索

1.在无机材料研究中的应用

（1）纳米颗粒。小角X射线散射技术被广泛用来测定纳米粉末的粒度分布，其粒度分析结果所反映的既非晶粒也非团粒，而是一次颗粒的尺寸。在测定中参与散射的颗粒数一般高达数亿个，因此在统计上有充分的代表性。

（2）金属的缺陷。金属经辐照或从较高温度淬火产生空位聚集，会引起相当强的小角散射。由于粒子体系和孔洞体系是互补体系，二者产生的散射是相同的。研究人员以中子辐照铝为例，研究了小角X射线散射在空位测量方面的应用。

（3）合金中的析出相。早在1938年，Guinier就已经用小角X射线散射技术研究合金中的非均匀区（现称作GP区），揭示了一些亚稳分解产物。如今小角X射线散射技术被越来越多地用于合金时效过程的研究，从而进行相变动力学研究等。

2.在高分子材料中的应用　在天然和人工合成的高聚物中，普遍存在小角X射线散射现象，并有许多不同的特征。小角X射线散射在高分子中的应用主要包括以下几个方面。

①通过Guinier散射测定高分子胶中胶粒的形状、粒度以及粒度分布等。(www.xing528.com)

②通过Guinier散射研究结晶高分子中的晶粒、共混高分子中的微区（包括分散相和连续相）、高分子中的空洞和裂纹形状、尺寸及分布等。

③通过长周期的测定研究高分子体系中片晶的取向、厚度、结晶百分数以及非晶层的厚度等。

④高分子体系中的分子运动和相变。

⑤通过Porod-Debye相关函数法研究高分子多相体系的相关长度、界面层厚度和总表面积等。

⑥通过绝对强度的测量，测定高分子的分子量。