光学干涉测量的优缺点及适用范围

光学干涉测量方法通常具有非接触、全场测量的优点。在实际应用中，检测灵敏度与加载可能使缺陷处产生的异常表面位移量密切相关。光学干涉法测量位移的灵敏度通常在光波长量级。以常用的He-Ne激光为例，波长为0.6328μm。而通过相移等光学处理技术，测量的灵敏度还能提高约1～2个数量级。有些商用检测系统标出的离面位移检测灵敏度达到2nm。

因此，一般认为光学干涉测量的灵敏度很高。事实上，为了使缺陷处能产生适合被光学干涉技术检测的表面位移，加载方式的选择是十分重要的。例如，复合材料层压板的紧贴型分层缺陷，采用真空加载方式往往难以检出，而热加载或振动加载更为适合；对于蜂窝结构中的脱粘缺陷利用真空加载或热加载方式一般都能产生理想的变形量。

尽管光学干涉测量技术对于被测物体表面的位移有微米、甚至纳米级的检测灵敏度，但对于刚度大的结构，必须认真考虑加载方式能够否在表面产生足够的异常变形。以复合材料夹心结构为例，适当的加载方式容易产生足够的表面变形，而在复合材料厚板中的分层缺陷如果埋深较大，由于材料刚度大，表面变形往往很小。对于刚度小的材料、埋深小的缺陷，光学干涉测量方法实施起来更为有利。(www.xing528.com)

利用材料力学性能参数对变形进行估算，对于确定光学干涉检测方法的可行性十分重要，在第3章对于复合材料层板或蜂窝结构中的分层缺陷变形给出一个估算的实例。此外，由于实际检测环境可能存在的干扰因素，现场的检测灵敏度可能还要低一些。在工程应用中，需要制作与被检测对象材料、结构及制作工艺相似的人工缺陷试样。人工缺陷试样是确定检测方法可行性及检测工艺参数、现场检测时校准仪器时不可缺少的重要手段。