纳米颗粒的粒径测量方法

纳米颗粒之所以具有一系列特殊的光、电、磁等物理和化学特性，与其自身的比表面积密切相关，而决定其比表面积的主要因素为颗粒粒径大小以及颗粒浓度。

要全面衡量某一纳米颗粒两相介质中的粒径大小是十分困难的，这是因为同一颗粒两相介质中纳米颗粒的大小不一且形状各异。因此表征纳米颗粒粒径大小的一般途径是在某个关于粒形的近似假设下引入一些统计量的定义。

对于球形颗粒而言，可直接以其直径大小表示颗粒的粒径，而对于非球形颗粒，通常按照某些规定的线性尺度加以表示。

根据Heywood规定，相距最近且刚好夹颗粒投影像的两平行线的间距被称为颗粒宽度，并以b表示；与宽度方向垂直且刚好夹颗粒投影像的两平行线的间距被称为颗粒长度，以l表示；同时垂直于长度和宽度方向被称为颗粒高度，以h表示。颗粒投影像的周长和面积分别以L和a表示；颗粒的表面积和体积分别以s和v表示。(www.xing528.com)

依据上述几何量，可以定义表1.1的不同颗粒粒度和当量直径。

表1.1　颗粒粒度与当量直径

此外，在颗粒测试中，颗粒粒度常常依据测量原理，采用与测量原理相当的球的直径来表示。比如阻力直径Dd是与颗粒在相同介质中以相等速度运动时遭遇阻力相同的球的直径；Stokes直径Dst是等效在层流区的自由沉降直径；筛分直径是以颗粒恰能通过一正方形筛孔的球的直径；Coulter直径则是Coulter法所对应的等效意义上的球的直径。