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垂直Bxa切面干涉图

时间:2023-11-22 理论教育 版权反馈
【摘要】:(一)图像特征图5-16二轴晶垂直Bxa切面的干涉图0°位时,干涉图由黑十字和“∞”形干涉色圈组成。二轴晶垂直Bxa切面的光率体椭圆半径分布如图5-19所示。见到二轴晶垂直Bxa切面干涉图,即可确定矿物为二轴晶,切面方位为垂直Bxa。2D与2E的关系为:图5-21在垂直Bxa切面的干涉图上测定2 D及2V与2E的关系示意图式中:K为马拉德常数,不同的显微镜有不同的K值。

垂直Bxa切面干涉图

(一)图像特征

图5-16 二轴晶垂直Bxa切面的干涉图

0°位时,干涉图由黑十字和“∞”形干涉色圈组成(图5-16A,图版Ⅵ-1、4)。黑十字交点与十字丝交点重合,并代表Bxa出露点。黑十字两个黑带一粗一细。当光轴角较小(2V<45°)时,在10×40倍的锥偏光镜下,两个OA出露点位于视域内,并位于较细的黑带上,且OA出露点处更细。当矿物最大双折射率较大时,干涉色分别以两个OA出露点为中心呈圈层状分布。由于干涉色圈向外较密,向内较疏,色圈呈椭圆状,外层干涉色圈相连呈“∞”字形,“∞”字形的走向与细黑带走向平行。旋转物台,黑十字从中心开始分裂成两个弯曲的黑带。“∞”字形色圈随之旋转。45°位时,两个黑带呈对称的双曲线,相距最远,两条黑带的顶点即为两OA的出露点,黑带凸向Bxa出露点(十字丝交点)。两OA出露点的连线为OAP与切面的交线(光轴面迹线),与AA、PP相交成45°。“∞”字形干涉色圈的走向与光轴面迹线走向一致(图5-16B,图版Ⅵ-2、5)。90°位时干涉图与0°位干涉图相似,仅方位旋转了90°(图5-16C)。135°位干涉图与45°位者相似,也是方位相差90°(图5-16D)。180°位干涉图又与0°位干涉图相同。

矿物的最大双折射率较大时,“∞”干涉色圈较多;较小时,干涉色圈较少。2V较大时,两个OA出露点相距较远;2V较小时则相距较近。两个OA出露点的距离还与物镜的放大倍数有关,放大倍数愈大,距离愈近。如果2V较大(物镜的放大倍数不是很大),两OA出露点就会位于视域之外,旋转物台,黑十字分裂、退出视域,干涉图特征与以后要介绍的垂直Bxo切面干涉图类似。

(二)干涉图的成因

图5-17 垂直Bxa切面波向图

(引自李德惠,1993)

图5-18 垂直Bxa切面干涉图中消光带的成因

(引自李德惠,1993)

1.消光带的成因

垂直Bxa切面波向图见图5-17。0°位时,十字丝附近区域,光率体椭圆半径与PP、AA一致或近于一致,矿物消光而形成黑十字消光带。光轴面迹线方向,光率体椭圆半径与PP、AA一致的范围较窄,故消光带较细;与之垂直的方向(即Nm方向)一致的范围较宽,故消光带较粗(图5-18A)。45°位时,光率体椭圆半径与PP、AA一致的范围呈对称的双曲线状,故消光黑带也呈对称的双曲线状(图5-18B)。

2.干涉色圈的成因

二轴晶有两根光轴,像一轴晶一样,干涉色分别以两OA出露点为中心呈圈层状分布。二轴晶垂直Bxa切面的光率体椭圆半径分布如图5-19所示。正光性矿物(图5-19A),Bxa=Ng,Bxa出露点(十字丝交点)的双折射率为Nm-Np。OA出露点的双折射率为零。从OA出露点向Bxa出露点(向内方向),双折射率由零增大到Nm-Np。由OA出露点向外(向垂直Bxo方向),双折射率变化为:0→(Ng′-Nm)→(Ng-Nm)。由于正光性矿物当2V与90°相差较大时,(Ng-Nm)>(Nm-Np),即由OA出露点向外,双折射率增加较快,向内增加较慢。负光性矿物(图5-19B),Bxa=Np,Bxa出露点的双折射率为Ng-Nm,由OA出露点向内,双折射率由零增加到Ng-Nm,向外双折射率也逐渐增加,增加的顺序为0→(Nm-Np′)→(Nm-Np)。由于负光性矿物当2V与90°相差较大时,(Ng-Nm)<(Nm-Np),也是由OA出露点向外,双折射率增加较快,向内增加较慢。同时,由OA出露点向外,光线通过矿片的距离是逐渐增加的,向内是逐渐减小的。因此,由OA出露点向外,R增加较快,表现为干涉色升高较快,干涉色圈较密;由OA向内,干涉色升高较慢,干涉色圈较疏。干涉色圈呈蛋形,小头朝Bxa出露点。外圈相连呈“∞”字形(图5-16)。

图5-19 二轴晶垂直Bxa切面干涉图中双折射率变化及光线通过矿片的距离变化

(引自李德惠,1993)
椭圆上、下两平行线示矿片顶底面

(三)干涉图的应用

1.确定轴性及切面方位

二轴晶垂直Bxa切面的干涉图很特别,无论是一轴晶还是二轴晶都没有另外一种干涉图与它完全相同。虽然最高双折射率较低(不出现干涉色圈)的一轴晶垂直OA切面的干涉图和二轴晶垂直Bxa切面的干涉图在0°位时都表现为与十字丝一致的黑十字,但旋转物台时前者黑十字不变,而后者黑十字分裂成双曲线。最大双折射率较大的矿物,即使在0°位,两种干涉图也容易区分:前者干涉色圈以黑十字(或十字丝)交点为中心;而后者干涉色圈分别以两个OA出露点为中心,相连成“∞”字形。见到二轴晶垂直Bxa切面干涉图,即可确定矿物为二轴晶,切面方位为垂直Bxa。

2.确定矿物的光性符号

确定矿物的光性符号,必须利用45°位或135°位干涉图。首先要弄清光率体要素在干涉图中的分布方向。如图5-20A所示,两条黑带的顶点为OA出露点,黑带突向Bxa出露点(十字丝交点),Bxa垂直图(纸)面。两个OA出露点的连线为光轴面迹线,垂直光轴面迹线方向为Nm方向。然后加入试板,根据视域中部(即Bxa出露点附近)干涉色的升降,判断Nm是光率体椭圆的长半径还是短半径,随之矿物光性符号即可确定。如果Bxa出露点附近的Nm是光率体椭圆的长半径,则垂直Nm方向(OAP迹线方向)为短半径Np,因为垂直NmNp面的主轴为Ng,所以Bxa=Ng,矿物光性符号为正(图5-20B,图版Ⅵ-6)。如果Bxa出露点附近的Nm是光率体椭圆的短半径,则垂直Nm方向为长半径Ng,因为垂直NmNg面的主轴为Np,所以Bxa=Np,矿物光性符号为负(图5-20C,图版Ⅵ-3)。

图5-20 二轴晶垂直Bxa切面干涉图中光率体要素的分布(A)及矿物光性符号的测定(B、C)

3.测定光轴角大小

1)马拉德(Mallard)法(www.xing528.com)

马拉德认为,垂直Bxa切面的干涉图中,两光轴出露点之间的距离2D与2V的大小是成正比的,2D可用目镜微尺测得(图5-21A)。在显微镜下只能见到视光轴角2E。2D与2E的关系为:

图5-21 在垂直Bxa切面的干涉图上测定2 D及2V与2E的关系示意图

式中:K为马拉德常数,不同的显微镜有不同的K值。由图5-21B所示,据折射率(取二轴晶的平均折射率为Nm):

将式(5-2)代入式(5-1),得

由式(5-3)可得

图5-22 2R和2 D测 量 示 意 图

用马拉德法测定矿物2V时,首先要将已知矿物(Nm、2V已知)磨制成垂直Bxa的定向切面(一般用黑云母垂直Bxa的切面),测定2D,根据公式(5-4)求出测试所用透镜系统的K值。然后选择待测矿物垂直Bxa定向切面测定2D,再根据公式(5-5)计算出矿物的2V。待测矿物的Nm有两种方法获得:一是用突起确定;二是已知它是属哪个矿物族后,取该矿物族的平均Nm值。无论用哪种方法,Nm取值误差均大,会导致2V的误差大。此外,定向切面不严格合乎要求,2D误差大也会严重影响2V的误差。因此,建议尽可能使用费德洛夫法测定矿物的2V。费氏台是一种常规仪器,用它测定2V,操作既简便,测定又准确。

2)托比(Tobi)法

该法是改正的马拉德法。已知视域直径2D大小与光孔角2θ是成正比的,设物镜与矿片之间的介质折射率为N,视域半径为R(图5-22),有下式:

式中:N·sinθ即物镜的数值孔径N·A,在每个物镜上都标有N·A值。则

将式(5-3)除以式(5-7),得

只要测得视域直径2R和两光轴出露点之间的距离2D,根据公式(5-8)即可计算出矿物的2V值。

托比法虽然避免了马拉德常数K的测定,但仍然有D和Nm的取值准确度和精度问题,如果二者误差较大和准确度差,则计算出的2V值误差更大,准确度也更差。

普通偏光显微镜测定矿物2V的方法还有其他几种,都要求切面严格的定向和Nm取值精确,都不如费氏台法操作简便、测定准确。因此,如果要用2V值来确定矿物的种属和结构状态等,建议最好用费氏台法测定2V。

在一般晶体光学鉴定中,可根据两OA出露点之间的距离大致估计出2V的大小。在一般鉴定中,通常是用数值孔径N·A为0.65的物镜(40×)观察干涉图,绝大多数造岩矿物和宝石的Nm都在1.50~1.80之间,根据托比法中的公式(5-8)计算,2V与2D/2R、Nm之间的关系如表5-1所列。从表中可以看出,当垂直Bxa切面干涉图中两OA出露点之间的距离占视域直径1/4时,2V=10°~12°,即11°左右;占1/2时,2V=21°~25°,即23°左右;占3/4时,2V=31°~38°,即35°左右;当两OA出露点紧靠视域边缘时,2V=43°~51°,即45°左右。如果粗略估计:正高突起以下矿物,两光轴出露点之间的距离占视域直径3/5以上,2V中等;占3/5以下,2V小;正高突起以上矿物,两OA出露点之间距离占视域直径3/4以上,2V中等;占3/4以下,2V小。

表5-1 N·A=0.65时,2V与2D/2R、Nm之间的关系

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