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挑战晶片缩小:突破登纳德定律的难题

时间:2023-06-03 理论教育 版权反馈
【摘要】:“由于需求所致,产业界必将会找到一个方法来继续缩小尺寸,但是它将会有所不同,不再完全依照过去传统的摩尔定律和登纳德缩放定律。”在该文中,登纳德指出,晶体管面积缩小后,其所消耗的电压和电流会以差不多相同的比例缩小。直到2005年,晶体管的尺寸减小后,量子隧穿效应已经使得晶体管漏电现象开始出现,登纳德缩放定律不再适用,芯片散热成了急需解决的问题。

挑战晶片缩小:突破登纳德定律的难题

随着进程的推进,关于摩尔定律的讨论又成为了热点。在2016年5月于比利时布鲁塞尔举办的欧洲微电子研究中心全球科技论坛上,业内再次将摩尔定律定为重要主题。提出摩尔定律的摩尔指出,“继续向下推进新的工艺节点正变得越来越困难,我不知道它(摩尔定律)还能持续多久。”“如果在未来十年中,尺寸缩小走到了尽头,我也不会觉得意外。”

荷兰ASM公司首席技术官兼研发主管伊沃·拉杰斯(Ivo J.Raaijmakers)认为:“呈指数级增长一直是半导体产业的特征,它还将继续下去。但是增长率和前往下一个技术节点的节奏可能放缓,逐渐向全球GDP增长率看齐。”“由于需求所致,产业界必将会找到一个方法来继续缩小尺寸,但是它将会有所不同,不再完全依照过去传统的摩尔定律和登纳德缩放定律(Dennard Scaling)。”

登纳德缩放定律源于罗伯特·登纳德(Robert Dennard)在1974年发表的论文“Design of ion-implanted MOSFETS with very small physical dimensions”。在该文中,登纳德指出,晶体管面积缩小后,其所消耗的电压和电流会以差不多相同的比例缩小。例如,晶体管的尺寸减半后,晶体管的静态功耗将会降至1/4(电压和电流同时减半)。由此,相同面积的电路中集成更多晶体管后,设计者可以大大地提高芯片的时钟频率(即同步电路中时钟的基础频率),提高频率所带来的更多的动态功耗会和减小的静态功耗相抵消。直到2005年,晶体管的尺寸减小后,量子隧穿效应已经使得晶体管漏电现象开始出现,登纳德缩放定律不再适用,芯片散热成了急需解决的问题。这也可以解释,为什么以高频、长流水线设计为主要理念的英特尔NetBurst微架构不尽如人意。基于NetBurst微架构的处理器在2007年不再生产,并且停止研发更新。自此,芯片研发者们纷纷停止高频芯片的研发,转向低频多核的架构―从2001年开始的第一个双核芯片,到后来的多核芯片乃至64核芯片,就是发展的规律所在。然而,从单核向多核的发展,并没有解决晶体管漏电、芯片发热越来越严重的根本问题。(www.xing528.com)

针对这一问题,国际计算机结构大会(International Symposium on Computer Architecture, ISCA)首次提出了“暗硅问题”(dark silicon problem)的概念:随着尺寸减小,所有晶体管的功率密度增长将越来越快,如果它们都同时全速运行,根本没法对其进行散热。为了满足功耗设计要求,通常情况下芯片中只有部分晶体管在工作,而其余部分晶体管处于休眠状态。面对这一问题,ARM率先在业务提出了异构系统架构―在芯片里同时放入高频的大核与低频的小核,核的利用根据所运行的操作系统决定,尽量减小功耗。这一设想在罗尔夫·兰道尔(Rolf Landauer)1961年的一篇论文中便已提及,用于计算的模型被称为可逆计算。由此,可逆计算自2012年以来成为一时的研究热点,设计师根据计算效率要求决定晶体管的利用率、把性能与功耗不同的核集成于异质多核的芯片中成为主流。

除异质多核的设计外,三维堆叠技术可以把集成晶体管数量多、复杂度极高的芯片分成若干小芯片再堆叠起来,降低了复杂度,提升了产品合格率,或将带来理想的效果。如果这一设想实现,鳍型晶体管技术将过渡到水平纳米线(Lateral Nanowire)和垂直纳米线(Vertical Nanowire),以三维方式构建,而原先的硅片平面蚀刻技术转变成多层蚀刻技术。然而,三维堆叠技术仍然有不少的技术难题需要攻克,而且成本过高也是摆在其商业化应用面前的一道坎。

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