X射线实时成像系统分辨率测试步骤详解

1.系统分辨率测试

（1）测试布置

射线成像系统分辨率测试参照EN 13068-1：2000《无损检测 射线透视检测第1部分：成像性能的定量测量》标准中相关项目进行布置如图9-1所示。

图9-1 成像系统分辨率测试布置图

1—射线源 2—射线滤波器 3—准直器 4—测试指示器 5—射线转换装置

1）射线源：使用各种型号、能量的X射线机；Se75、Ir192、Co60的γ射线源。

2）射线滤波器：含量99%铜板，厚度为0.3mm。

3）准直器：铅板，厚度为1mm。

4）测试指示器：像质计：JB/T 4730.2—2005标准中规定的10号、6号像质计；双丝像质计：EN 465-2；线对测试卡：CN 31697，TYP 39 1.5～20Lp/mm。

5）射线转换装置：Varian2520V（美国）；PE XRD 0820 MN-14 IND（德国）。

6）医用显示器：FlexScan；原始分辨率1600×1200，亮度300cd/m²。

（2）系统分辨率测试步骤

1）调整成像系统达到测试要求。

2）在图9-1的布置中，调整射线源焦点至射线接收转换装置输入屏表面距离分别为F=700mm；F=400mm；F=500mm；F=600mm；F=800mm；F=1000mm。

3）将线对测试卡、像质计、双丝像质计按规定紧贴在X射线接收转换装置输入屏表面中心区域。

4）按GB/T 19239—2003标准中规定，X射线机管电压50kV，管电流2.0mA，X射线源至X射线接收转换装置输入屏表面距离不小于700mm；γ射线源；图像灰度值约在7000～10240范围内。

（3）图像观察

1）考虑到人眼分辨能力的影响，可以用5倍放大镜来观察，要分别作记录。

2）在显示屏上观察线对测试卡的影像，观察到两根分离的线条刚好重合一根线条对时的一组线对，记录此组线对对应线对值即为系统分辨率。

3）在显示屏上观察像质计最细可见丝号Z；双丝像质计影像刚好从两根分离的金属丝重合成单根时最大尺寸单元影像即为总不清晰度值U_t。

4）将系统分辨率值、像质指数Z、不清晰度值计入表9-1和表9-2中。

表9-1 X射线实验测试值记录表（f值为射线源至工件表面距离）

表9-2 γ射线实验测试值记录表（f值为射线源至工件表面距离）

2.射线照相对比试验

（1）JB/4730.2—2005试验标准中AB级射线检测技术

1）射线照相同图9-1布置，将射线转换装置部分换成装有天津Ⅲ型射线照相胶片暗袋。(www.xing528.com)

2）在图9-1的布置中，调整射线源焦点至X射线照相胶片暗袋表面距离分别为F=700mm；F=400mm；F=500mm；F=600mm；F=800mm；F=1000mm。

3）将线对测试卡、像质计、双丝像质计按规定紧贴在X射线照相胶片暗袋表面中心区域。

4）按GB/T 19239—2003标准中规定，X射线机管电压50kV，管电流2.0mA，X射线源至X射线接收转换装置输入屏表面距离不小于700mm；γ射线源。

5）底片黑度值D=1.8～2.5范围选择曝光量。

6）暗室处理：

a）显影温度为20°±1°；

b）显影液药力中等；

c）显影时间为5min；

d）定影时间为15～20min；

e）水冲洗30min脱水烘干。

7）底片观察与评审：

a）观察与评审底片时，应满足JB/T 4730.2—2005标准中评片要求；

b）观片距离约为250mm；

c）测量底片黑度D=1.8～2.5范围内；

d）在底片观察灯上确定底片的像质计灵敏度、系统分辨率、系统总不清晰度；

e）将观察确定的各种数据填入表9-3和表9-4中。

表9-3 X射线照相测试值记录表（f值为射线源至工件表面距离）（AB级天津Ⅲ型胶片）

表9-4 γ射线照相测试值记录表（f值为射线源至工件表面距离）（AB级天津Ⅲ型胶片）

（2）JB/4730.2—2005试验标准中B级射线检测技术

1）射线照相同图9-1布置，将射线转换装置部分换成装有天津Ⅴ型射线照相胶片暗袋。

2）、3）同AB级射线检测技术中的2）、3）。

4）按GB/T 19239—2003标准中规定，X射线机管电压50kV，管电流2.0mA，X射线源至X射线接收转换装置输入屏表面距离不小于700mm；γ射线源。

5）～7）同AB级中的5）～7）。

注：填入B级数据时，需在表9-3和表9-4的表头上加注（B级天津V型胶片），并换去原（AB级天津Ⅲ型胶片）后即可。

3.实验结果（见实验总结报告）